NIR系列激光光束光斑分析儀參數(shù)/圖片/應(yīng)用/價(jià)格

光束光斑分析儀簡(jiǎn)介

奧萊光電自主研發(fā)的光束光斑分析儀可實(shí)現(xiàn)激光光斑檢測(cè)及測(cè)試應(yīng)用。為客戶(hù)提供定制光束質(zhì)量分析一體化設(shè)計(jì)解決方案，并支持多應(yīng)用開(kāi)發(fā)。光束質(zhì)量分析儀裝置一體化設(shè)計(jì)，配套衰減方案設(shè)計(jì)，支持實(shí)時(shí)曝光及增益調(diào)節(jié)。適用半導(dǎo)體激光器，固體激光器，光纖激光器，超快激光器，激光測(cè)距等領(lǐng)域。目前已作為成熟產(chǎn)品在市場(chǎng)推廣，性?xún)r(jià)比很高，得到大量客戶(hù)認(rèn)同?，F(xiàn)公司研發(fā)部可根據(jù)客戶(hù)不同需求進(jìn)行模塊化定制。

Beamfiler NIR系列光束光斑分析儀性能特點(diǎn)：

1.本系列產(chǎn)品具備高分辨率和小像素尺寸的特點(diǎn)，像素尺寸min可達(dá)1.85μm

2.可根據(jù)實(shí)際光斑大小，選擇不同型號(hào)的產(chǎn)品，max光斑尺寸可達(dá)10mm

3.光束分析裝置一體化設(shè)計(jì)，配套衰減方案設(shè)計(jì)

4.支持手動(dòng)和自動(dòng)實(shí)時(shí)曝光及增益調(diào)節(jié)

5.高性?xún)r(jià)比，可代替進(jìn)口激光光束質(zhì)量分析儀，實(shí)現(xiàn)激光光斑檢測(cè)及測(cè)試應(yīng)用

Beamfiler NIR系列光束光斑分析儀典型應(yīng)用：

1.需要對(duì)激光光斑形狀進(jìn)行檢測(cè)得場(chǎng)合，如激光生產(chǎn)，維護(hù)以及激光應(yīng)用;

2.光學(xué)器件質(zhì)量檢查;

3.激光腔鏡調(diào)整;

4.外光路準(zhǔn)直;

5.光纖對(duì)準(zhǔn)耦合分析等。

Beamfiler NIR系列光束光斑分析儀產(chǎn)品型號(hào)：